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Fluke Ti 20 热成像仪
为各种工业维护应用场合带来了划时代的性能
Fluke Ti20 在热成像领域中树立了卓越性价比的光辉典范，显著降低了用户利用这一强大技术的门槛。 Ti20 设计用于众多的工业应用场合，为精通装置及设备的服务和维护人员带来了强大的热成像功能。
垂手可得的热成像
凭借单手控制的“一指通”操作和直观的屏显指南，Ti20 热像仪非常易于使用，不需专业培训便可进行准确的测量。 只需指向目标，对焦仪器，它就会自动调整温度范围来显示清晰鲜明的图像。 一旦用户扣动扳机，便会存储图像及相关的测量数据。 通过随附的软件，用户可以随心更改主要图像参数，从而优化图像和抽取最多的细节，而无需返回工厂车间重新扫描。
Fluke Ti 20 热成像仪
辐射测量 —“隐藏在图像后面的数据”
全辐射热像仪能够轻松捕获和存储数千个组成热图像的位置点的校准温度数据。 这样，用户既可以在现场使用照相机，也可以在办公室中使用 PC 软件来执行详细的分析和更新主要参数，如辐射系数和温度范围。
安全方便地识别问题并缩短意外的停机时间 随时提供非接触式的温度图像，快速确定热点
全面的辐射范围实现详细的温度分析和跟踪关键组件
配备 InsideIR 软件的综合解决方案允许用户方便快速地分析、报告和设定路线
宽大彩色液晶显示屏显示清晰亮丽的图像以及数据和路线指示
专为工业用途打造的卓越性能 革新的探测器技术提供清晰的热图像且准确地测量温度
350 °C 的测量上限涵盖了众多的工业应用场合
防尘和防潮的优异保护性能（符合 IP54 标准）可以从容应对各种恶劣的工业环境
每次电池充电均可保证连续 3 小时的操作
操作方便而简单 重量均衡的人性设计非常适于手持
简单方便的单手控制指点、拍摄和图像捕获操作
清楚明了的分步路线指示有助于快速进行检查
综合全面的解决方案实现超低的拥有成本 随附的 InsideIR 软件允许维护小组的任何成员不限次数的使用（无需支付软件许可费用）
配备所有必要的附件和专业应用程序培训资料，确保快速收回投资成本
典型应用
Ti20 的典型应用如下： 电气配电系统：如三相系统、配电盘、保险丝、导线和连接线等
机电设备：如电动机、泵、轴承和齿轮箱等
流程装置：如流程控制设备、管道、阀门、蒸汽疏水阀和容器等
设施维护：如 HVAC 系统、建筑物和屋顶等
Fluke Ti30 热成像仪 每日所需 最佳选择
高性价比的 Fluke Ti30™热像仪为预维护提供最佳的解决方案
完美的红外热像解决方案 Ti30热像仪的包装中含所有必要的附件,使用不受限制的InsideIR™软件和两天专业培训
快速简单的检测 设计设备检测计划,安装到热像仪中,然后每次简单地根据仪器上的指示进行检测
专为工厂应用而设计 具有5个小时连续使用的电池寿命,可存储100个图像的能力,允许全天使用而不用中断检测.
性价比高 高性能TI30热像仪的附加价值是可提供仪器的服务和标定
Fluke Ti40 热成像仪
为工程师和专业技术人员的维护和生产工作带来更多选择
Fluke Ti4x 系列产品几乎可完成任何热像测量工作,它配备有一个 160 x 120 探测器,温度灵敏度高达0.08 ºC (NETD),可提供高分辨率图像,即使最细微的温度差别也无法逃脱它的眼睛.该系列产品使用极为方便,设计采用 Windows® CE 菜单结构,故障排查功能更为丰富,允许在测量现场进行快速分析.
FT系列产品采用最新的IR-Fusion™技术, IR-Fusion可捕获可见光图像和红外图像,让IR图像分析变得不再神秘.它可以帮助更好的识别和报告可疑组件,可在第一时间完成完成维修工作.详情请查看位于本页内容导航部分的IR-Fusion选项.
典型应用 预防性维护 – 在电气和机械问题导致设备故障前及时发现问题
工业维护 – 检查维修情况,保证维修工作顺利完成
质量控制 – 检查设备原型,优化热管理设计
过程监控 – 实时监控,确保操作高效安全完成
Fluke Ti40 热成像仪
福禄克 IR-Fusion 技术
将红外线和可见光图像融合在一起 - 使您可以查看各种模式的图像,包括从IR一直到全部可见光,并且提供清晰图像.
如果您想要了解更多信息,请从本页一侧的内容导航中选择 "Fusion"选项
让观察更为清晰
Fluke IR-Fusion™ 技术(应用于FT系列产品)可将现实世界中的可见图像与热图像结合在一起,它可以将这两种图像融合为一个图像,包括将它们混合在一起或创建画中画组合.可通过可见光图像监控报警极限,从而准确无误的找出超过特性温度设定范围的组件.在报告中可同时使用可见光图像和热图像,从而加速文件的生成过程,而无需查找由单独的数码相机拍摄的单个图像.IR Fusion可帮助您更好的识别和报告可疑组件,让您在第一时间完成维修工作.
大尺寸精确热图像
由于采用了同类热成像仪产品中最大的显示屏(5英寸)和低噪音VOx传感器,Fluke IR FlexCam单元可产生高质量图像,品质非同一般,即使是再小的温度差别也无法逃脱它的眼睛.由它生成的图像丝毫不比那些价格极其昂贵仪器逊色.
任何情况下都能提供精确清晰的图像
创新可活动 180 °镜头,可以查看和捕获人员难以进入区域的图像.即使在非常高的物体上/机器下方或在无法移动的障碍物附近,显示仍然清晰可见.使用SmartFocus轮可以简化摄取稳定清晰图像的过程,不用在使用过程中再把手拿下来调节光圈.
让异常显露无遗
由于采用了AutoCapture(自动图像捕获)等功能,IR FlexCam热像仪可帮助您查找非常困难的问题.该仪器设置方便,可自动捕获那些超过温度设定范围的物体图像,而且仅捕获此类图像.这样您可以只将注意力集中于出现异常的图像,从而帮助您快速捕获并分析间歇性出现的问题.
采用标准分析和报表生成方法
SmartView™软件(随仪器提供)包括丰富的红外图像查看/分析/注释和报表生成工具,它甚至允许对报表进行客户化设计,从而满足特定的公司程序和需求,例如多图像报表生成和比较等.如需更多信息,请选择本页一侧的内容导航中的SmartView选项.
辐射测量 – ‘透过图像发现数据’
这种全辐射测量热像仪可以捕获并保存组成热图像的成千上万个矩阵点校准温度数据,并可进行详尽的分析,还可在现场通过照相机或在办公室通过PC软件更改关键参数,例如发射率或温度范围等等.
Fluke Ti50 热成像仪
追求最高灵敏度的专业人士的理想选择
如果您需要获得最佳的图像效果,请选择 Fluke Ti5x,它采用320 x 240探测器,它的热灵敏度(≤ 0.05 °C NETD)在同类产品中处于领先地位,可获得非常高的分辨率.除此之外,其探测器采集率可达60 Hz,通过5英寸大屏幕彩色显示屏,它可以实时显示测量温度.
FT系列产品采用最新的IR-Fusion™技术, IR-Fusion可捕获可见光图像和红外图像,让IR图像分析变得不再神秘.它可以帮助更好的识别和报告可疑组件,可在第一时间完成完成维修工作.详情请查看位于本页内容导航部分的IR-Fusion选项.
典型应用 预防性维护 – 在电气和机械问题导致设备故障前及时发现问题
能源/电力设施 - 变电站,输电线路和设备的实时分析
过程监控 – 实时监控,确保操作高效安全完成
产品研发 - 对热模式进行量化,从而改进产品设计
电子设计 - 进行深入电路板分析
Fluke Ti50 热成像仪
福禄克 IR-Fusion 技术
将红外线和可见光图像融合在一起 - 使您可以查看各种模式的图像,包括从IR一直到全部可见光,并且提供清晰图像.
如果您想要了解更多信息,请从本页一侧的内容导航中选择 "Fusion"选项
让观察更为清晰
Fluke IR-Fusion™ 技术(应用于FT系列产品)可将现实世界中的可见图像与热图像结合在一起,它可以将这两种图像融合为一个图像,包括将它们混合在一起或创建画中画组合.可通过可见光图像监控报警极限,从而准确无误的找出超过特性温度设定范围的组件.在报告中可同时使用可见光图像和热图像,从而加速文件的生成过程,而无需查找由单独的数码相机拍摄的单个图像.IR Fusion可帮助您更好的识别和报告可疑组件,让您在第一时间完成维修工作.
大尺寸清晰热图像
由于采用了同类热成像仪产品中最大的显示屏(5英寸)和低噪音VOx传感器,Fluke IR FlexCam单元可产生高质量图像,品质非同一般,即便再小的温度差别也无法逃脱它的眼睛.它由业内最高级别的Vox探测器，可以精确地到0.1℃。
任何情况下都能提供准确清晰的图像
创新可活动 180 °镜头,可以查看和捕获人员难以进入区域的图像.即使在非常高的物体上/机器下方或在无法移动的障碍物附近,显示仍然清晰可见.使用SmartFocus轮可以简化摄取稳定锐利图像的过程,不用在使用过程中再把手拿下来调节光圈.
让异常显露无遗
由于采用了AutoCapture(自动图像捕获)等功能,IR FlexCam热像仪可帮助您查找非常困难的问题.该仪器设置方便,可自动捕获那些超过温度设定范围的物体图像,而且仅捕获此类图像.这样您可以只将注意力集中于出现异常的图像,从而帮助您快速捕获并分析间歇性出现的问题.
采用标准分析和报表生成方法
SmartView™软件(随同仪器一道提供)包括丰富的红外图像查看/分析/注释和报表生成工具,它甚至允许对报表进行客制化设计,从而满足特定的公司程序和需求,例如多图像报表生成和比较等.如需更多信息,请选择本页一侧的内容导航中的SmartView选项.
辐射测量 – ‘透过图像发现数据’
这种全辐射测量热像仪可以捕获并保存组成热图像的成千上万个矩阵点校准温度数据,并可进行详尽的分析,还可在现场通过照相机或在办公室通过PC软件更改关键参数,例如发射率或温度范围等等.
发布日期：2008-6-14 【返回】