日本KETT LZ-200J膜厚计/涂层测厚仪的特点：
日本KETT LZ-200J膜厚计/涂层测厚仪采用了磁性和涡流两种测厚方法。日本KETT LZ-200J膜厚计/涂层测厚仪可无损的测量磁性金属基体（如铁、合金和硬磁性钢等）上非磁性覆层的厚度（如铜、铝、铬、珐琅、橡胶、油漆等）及非磁性金属基体（如铜、铝、锌、锡等）上的非导电覆层的厚度（如珐琅、橡胶、油漆、塑料等）。日本KETT LZ-200J膜厚计/涂层测厚仪内置打印机，可打印数据，有四个统计功能。
日本KETT LZ-200J膜厚计/涂层测厚仪采用了磁性和涡流两种测厚方法。日本KETT LZ-200J膜厚计/涂层测厚仪可无损的测量磁性金属基体（如铁、合金和硬磁性钢等）上非磁性覆层的厚度（如铜、铝、铬、珐琅、橡胶、油漆等）及非磁性金属基体（如铜、铝、锌、锡等）上的非导电覆层的厚度（如珐琅、橡胶、油漆、塑料等）。日本KETT LZ-200J膜厚计/涂层测厚仪内置打印机，可打印数据，有四个统计功能。
日本KETT LZ-200J膜厚计/涂层测厚仪的技术参数：
| 测定方法 | 电磁式及高频涡流式 |
| 测定对象 | 磁性金属上非磁性涂镀层及非磁性金属上绝缘层 |
| 测定范围 | 电磁式：0～1500um或0～60.0mils |
| 高频式：0～800um或0～32.0mils | |
| 测定精度 | 电磁式：<15um±0.3um >15um±2% |
| 高频式：<50um±1um >50um±2% | |
| 分辨率 | <100um 0.1um >100um 1um |
| 界限设定 | 可设定上/下限数值 |
| 测试单位 | 公/英制互换 |
| 显示方式 | LCD数显 |
| 操作面板 | 密封防水按键 |
| 附属品 | 铁基体/铝基体/校正标准片/电池/皮套/说明书 |
| 电源 | DV3V 主机5#碱性电池×6个 打印机5#碱性电池×4个 |
| 体积 | 80(W)×80(D)×30(H) |
| 重量 | 1100g |
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